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Van Metre, Donald
Inside TOEIC exam / by Donald Van Metre and the staff of Kaplan test prep. and admissions
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Titolo e contributi: Inside TOEIC exam / by Donald Van Metre and the staff of Kaplan test prep. and admissions
2. ed.
Pubblicazione: New York : Kaplan Publishing, [2008]
Descrizione fisica: XII, 227 p. : ill. ; 17 cm
ISBN: 9781427797810
Data:2008
Lingua: Inglese (lingua del testo, colonna sonora, ecc.)
Dati generali (100)
- Tipo di data: monografia edita in un solo anno
- Data di pubblicazione: 2008
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| Faloppio | 400 Linguaggio 428.007 1 VAN | TF-28779 | Su scaffale | Disponibile |